Pekka Laukkanen

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Advanced Electronic Materials

Lehtiö Juha-Pekka, Rad Zahra Jahanshah, Granroth Sari, Yasir Muhammad, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Rueff Jean-Pascal, Rauha Ismo TS, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

ACS Materials Au

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina Svetlana V., Punkkinen Marko P. J., Hedman Hannu-Pekka, Punkkinen Risto, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Black silicon boron emitter solar cells with EQE above 95% in UV (2021)

IEEE Photovoltaic Specialists Conference, Conference Record IEEE Photovoltaic Specialists Conference

Chen Kexun, Vähänissi Ville, Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Laukkanen Pekka, Yli-Koski Marko, Savin Hele

(Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa (A4))

Passivation of III-V surfaces with crystalline oxidation (2021)

Applied Physics Reviews

Laukkanen Pekka, Punkkinen Marko, Kuzmin Mikhail, Kokko Kalevi, Lång Jouko, Wallace Robert

(Vertaisarvioitu katsausartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A2))

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Physical Review B

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina SV, Punkkinen Marko PJ, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

ACS Applied Materials and Interfaces

Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Mack Iris, Rosta Kawa, Chen Kexun, Vähänissi Ville, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Pavlov Andrei, Kuzmin Mikhail, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Indicating the intensity of a predetermined type of radiation (2020)

Lastusaari M., Norrbo I., Laukkanen P.

(O2 Muu julkaisu )

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Applied Surface Science

Kuzmin M., Lehtiö J.-P., Rad Z.J., Mäkelä J., Lahti A., Punkkinen M.P.J., Laukkanen P., Kokko K.

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Ytterbium/Silicon and Ytterbium/Germanium Interfaces: Earliest Stages of Formation (2020)

Kuzmin Mikhail, Laukkanen Pekka

(Kirjan tai muun kokoomateoksen osa (B2))

Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)

Advanced Materials Interfaces

Kuzmin M., Lehtiö J.-P., Mäkelä J., Yasir M., Rad Z.J., Vuorinen E., Lahti A., Punkkinen M., Laukkanen P., Kokko K., Hedman H.-P., Punkkinen R., Lastusaari M., Repo P., Savin H.

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Ota yhteyttä

Linkit

Asiantuntijuusalueet

Julkaisut

Järjestä:

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

Black silicon boron emitter solar cells with EQE above 95% in UV (2021)

Passivation of III-V surfaces with crystalline oxidation (2021)

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

Indicating the intensity of a predetermined type of radiation (2020)

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Ytterbium/Silicon and Ytterbium/Germanium Interfaces: Earliest Stages of Formation (2020)

Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)