Pekka
Laukkanen
dosentti, fysiikan ja tähtitieteen laitos
yliopistotutkija, materiaalitutkimuksen laboratorio
Ota yhteyttä
Asiantuntijuusalueet
pintatiede
puolijohde
pinnan passivointi
ohutkalvot
Julkaisut
Preparation and Characterization of Oxide/Semiconductor Interfaces (2019)
(Vertaisarvioitu artikkeli kokoomateoksessa (A3))INDICATING THE INTENSITY OF A PREDETERMINED TYPE OF RADIATION (2019)
(O2 Muu julkaisu )Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)
Advanced Materials Interfaces
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
SILICON-ON-INSULATOR WITH CRYSTALLINE SILICON OXIDE (2018)
(O2 Muu julkaisu )Oxidation-Induced Changes in the ALD-Al2O3/InAs(100) Interface and Control of the Changes for Device Processing (2018)
ACS Applied Materials and Interfaces
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Crystalline and oxide phases revealed and formed on InSb(111)B (2018)
Scientific Reports
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Solar UV index and UV dose determination with photochromic hackmanites: from the assessment of the fundamental properties to the device (2018)
Materials Horizons
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Electronic structure and relative stability of the coherent and semi-coherent HfO2/III-V interfaces (2018)
Applied Surface Science
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Imaging empty states on the Ge(100) surface at 12 K (2018)
Physical Review B
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Surface doping of GaxIn1−xAs semiconductor crystals with magnesium (2018)
Materialia
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))