Juha-Pekka Lehtiö

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Physical Review B

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina SV, Punkkinen Marko PJ, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Black silicon boron emitter solar cells with EQE above 95% in UV (2021)

IEEE Photovoltaic Specialists Conference, Conference Record IEEE Photovoltaic Specialists Conference

Chen Kexun, Vähänissi Ville, Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Laukkanen Pekka, Yli-Koski Marko, Savin Hele

(Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa (A4))

Stabilization of unstable and metastable InP native oxide thin films by interface effects (2021)

Applied Surface Science

Punkkinen Marko PJ, Lahti Antti, Huhtala Jesse, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Kuzmin Mikhail, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Advanced Electronic Materials

Lehtiö Juha-Pekka, Rad Zahra Jahanshah, Granroth Sari, Yasir Muhammad, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Rueff Jean-Pascal, Rauha Ismo TS, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

ACS Materials Au

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina Svetlana V., Punkkinen Marko P. J., Hedman Hannu-Pekka, Punkkinen Risto, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Evidence for the Eu 4f Character of Conduction-Band Edge at the Eu2O3 Surface Studied by Scanning Tunneling Spectroscopy (2021)

Surface Science

Lehtiö Juha Pekka, Hadamek Tobias, Kuzmin Mikhail, Laukkanen Pekka, Demkov Alexander A

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Applied Surface Science

Kuzmin M., Lehtiö J.-P., Rad Z.J., Mäkelä J., Lahti A., Punkkinen M.P.J., Laukkanen P., Kokko K.

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

ACS Applied Materials and Interfaces

Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Mack Iris, Rosta Kawa, Chen Kexun, Vähänissi Ville, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Pavlov Andrei, Kuzmin Mikhail, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)

Advanced Materials Interfaces

Kuzmin M., Lehtiö J.-P., Mäkelä J., Yasir M., Rad Z.J., Vuorinen E., Lahti A., Punkkinen M., Laukkanen P., Kokko K., Hedman H.-P., Punkkinen R., Lastusaari M., Repo P., Savin H.

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Surface topography and electrical properties in Sr2FeMoO6 films studied at cryogenic temperatures (2018)

International Conference on Low Temperature Physics, Journal of Physics: Conference Series

I. Angervo, M. Saloaro, J. Mäkelä, J.-P. Lehtiö, H. Huhtinen, P. Paturi

(Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa (A4))

Contact

Publications

Sort by:

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Black silicon boron emitter solar cells with EQE above 95% in UV (2021)

Stabilization of unstable and metastable InP native oxide thin films by interface effects (2021)

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

Evidence for the Eu 4f Character of Conduction-Band Edge at the Eu2O3 Surface Studied by Scanning Tunneling Spectroscopy (2021)

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)

Surface topography and electrical properties in Sr2FeMoO6 films studied at cryogenic temperatures (2018)