Pekka
Laukkanen
yliopistotutkija, materiaalitutkimuksen laboratorio
dosentti, fysiikan ja tähtitieteen laitos
Ota yhteyttä
Asiantuntijuusalueet
pintatiede
puolijohde
pinnan passivointi
ohutkalvot
Julkaisut
Evidence for the Eu 4f Character of Conduction-Band Edge at the Eu2O3 Surface Studied by Scanning Tunneling Spectroscopy (2021)
Surface Science
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)
ACS Materials Au
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Indicating the intensity of a predetermined type of radiation (2020)
(Muu (O2))Ytterbium/Silicon and Ytterbium/Germanium Interfaces: Earliest Stages of Formation (2020)
(Kirjan tai muun kokoomateoksen osa (B2))Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)
ACS Applied Materials and Interfaces
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)
Applied Surface Science
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Unusual oxidation-induced core-level shifts at the HfO2/InP interface (2019)
Scientific Reports
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Preparation and Characterization of Oxide/Semiconductor Interfaces (2019)
(Vertaisarvioitu artikkeli kokoomateoksessa (A3))INDICATING THE INTENSITY OF A PREDETERMINED TYPE OF RADIATION (2019)
(Muu (O2))Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)
Advanced Materials Interfaces
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))